顛覆性的半導體測試方法

  上傳用戶:nakey 上傳日期:2021-02-03 文件類型:PDF
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身為芯片制造商,您應該已經看到行業的諸多變化,但是如果為了適應這些變化而不斷地轉型,可能會擾亂正常的制造流程。我們先不管這些令人措手不及的變化,而先反思一下自身當前的半導體測試方法。 無論您制造的是何種芯片,其業務驅動因素都是相同的。除了芯片的功能必須高度集成之外,您還需要確保身負重任的應用擁有最高可靠性,同時保持出色的成本競爭力,并盡可能縮短產品上市時間以滿足緊迫的市場周期。因此,您需要突破傳統方法的桎梏,采用創新的測試方法,以滿足IC行業不斷變化的需求,并超出客戶的期望。為此,NI提供了諸多測試解決方案,適用于從實驗室到生產車間的整個流程,并可滿足您不斷變化的業務需求?!?

關鍵詞: NI   芯片   半導體測試系統  

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